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　　離子遷移譜和質譜有相同之處，也有不同之處，今天就為大家來分享一下，一起來看看吧。
 

　　都要先對目標物離子化，所以都有離子源;最終經過分離、檢測的都是離子，檢測器基本也一樣;都是既可以檢測正離子也可以檢測負離子(+/-模式)。
 

　　不同的是離子分離的原理：離子遷移利用離子的淌度不同分離離子，在離子遷移管中完成，離子的淌度與離子的電荷數、離子的體積大小和空間幾何形狀(碰撞截面)有關;而質譜利用離子的質荷比不同分離離子，在質量分析器中完成，質荷比取決于離子的質量數和電荷數。
 

　　另外一個不同在于：離子遷移管中必須要通逆流的氣體并控制氣體的溫度和流速，以及離子遷移管中電場強度;而質量分析器中必須保持真空，不同的質量分析器對真空的要求有高有低，不同的質量分析器的工作原理也不相同(磁場B、電場E、四極電場Q、既無電場也無磁場TOF、還有FTICR、Orbitrap等等)。
 

　　離子遷移管還可以與質量分析器串聯。
 

　　有朋友認為，離子遷移譜和質譜的區別，比較淺顯的說，原理不一樣。ms用荷質比來分離物質，m/z比較直觀，遷移譜用k，遷移率(離子淌度)分離，遷移率這個東西就不那么直觀，和點荷量，分子量，形狀等都有關系(因此ims可以用來分離同分異構體)。
 

　　遷移譜目前還是初級階段，而且ims發展最近十年及其多樣化，各種花樣都有。傳統的ims目前分辨率最高也不過200多，衍生技術，如oms，tw-ims等，分辨率也是這個水平，好的能到500分辨率，fa-ims，目前在芯片大小的儀器核心上實現了500的分辨率。ms的分辨率就不同了，高的很。普通tof兩萬到四萬。
 

　　ims成本較低，商品化儀器較多。幾十萬就能買一個。